DR-H704-350A-HAST高压加速老化试验箱又称为超加速寿命试验机,用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备，其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。广泛用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验等行业。

HAST未饱和高压蒸汽恒定湿热试验箱是根据GBT2423.40-2013电工电子产品环境试验 第40部分：试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热设计研发的一款设备，通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料（灌封或密封）或外部保护材料和金属导体的交接面，来评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

HAST半导体器件强加速稳态湿热试验箱是根据GB/T 4937.4半导体器件机械和气候试验方法 第4部分∶强加速稳态湿热试验（HAST）设计研发的一款设备，通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料（灌封或密封）或外部保护材料和金属导体的交接面，来评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

强加速稳态湿热试验箱（HAST）是根据GB/T 4937.4半导体器件机械和气候试验方法 第4部分∶强加速稳态湿热试验（HAST）设计研发的一款设备，通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料（灌封或密封）或外部保护材料和金属导体的交接面，来评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。

DR-H309漳州内存卡HAST老化试验箱。HAST高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

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